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name: Phase C Tang Console NEO 慎重実装 Protocol (2026-05-01)
description: 藤本さん「初実装+熱で壊れる危険」を最大尊重した 3 段階 protocol. Phase 0 (license 待ち中シミュレーション) は本日完了 50/50 PASS. Phase 1+2 は license 受領後. SRAM mode + 30-60秒 + 温度確認 + 5分冷却
type: project
originSessionId: d379da7b-dcdc-4417-a2fd-4168f498debb
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# Phase C Tang Console NEO 慎重実装 Protocol (2026-05-01 起草)

## トリガー

藤本さん 2026-05-01 指示:
> 「Tangの実装試験は初めてなので、あまりやり過ぎると熱処理で壊れる危険性が有るので、
>  慎重に実装をお願いできますか?」

→ honest 発熱 risk は <0.001% (LUT 占有 0.04-0.05%) だが、藤本さんの不安を尊重した
   慎重 protocol を **科学的に基礎づけた慎重** として確立.

## ファイル

- `hardware/phase-c/SAFETY-PROTOCOL.md` — full protocol (本 memory の参照先)

## 3 段階 Protocol Summary

### Phase 0: License 待ち中 (実機通電なし, 熱問題ゼロ)

- **TS reference simulator** で `dfumt8_alu_synth.v` の動作確認
- `npx tsx data/verilog/sim/run-sim.ts` → **50/50 PASS** (Paper 28 §4.2 reproduction 含む) — **2026-05-01 完了**
- WSL2 + iverilog でも動作確認可能 (オプション)
- Tang Console NEO 既存 firmware (TangCore retro) はそのまま, 触らない

### Phase 1: License 受領後 LED Blinky (30 秒通電)

慎重 protocol:
1. 電源 OFF 確認 → USB 接続
2. **タイマー 30 秒**
3. Gowin Programmer で **SRAM mode** (Flash 触らない) → `led_blinky.fs` 書込
4. LED ~1.5 Hz 点滅確認
5. 30 秒経過 → USB 抜く
6. SOM module 表面を **指で軽く触れる** → 体温と同程度なら正常
7. **5 分冷却** (USB 抜いたまま)

期待 LUT: ~50 (138K の 0.04%) → 発熱 室温 +1-2°C のみ.

### Phase 2: D-FUMT₈ ALU Demo (60 秒通電)

Phase 1 と同 protocol で `dfumt8_demo_top.fs` 書込.
- 期待 LUT: ~50-70 (138K の 0.05%)
- LED 3 個 (Red U12 / Blue G11 / RGB E21) が ~3 Hz で連続パターン変化
- 60 秒で約 180 cycle 観察可能

## ★ Honest 発熱 risk 評価

| 設計 | LUT | 占有率 | 発熱 |
|------|-----|-------|------|
| LED Blinky | ~50 | 0.04% | 室温 +1-2°C |
| D-FUMT₈ ALU Demo | ~50-70 | 0.05% | 室温 +1-2°C |

危険水準 (>85°C) に到達するには **138K LUT の 50%+ を 200+ MHz で連続稼働** 必要.
本 protocol の設計とは **3 桁離れている** → 熱で壊れる確度 <0.001%.

## 「壊れる」確度 honest 列挙

| シナリオ | 確度 |
|---------|------|
| 熱で chip 焼損 | <0.001% (本設計では物理的不可能) |
| 静電気で I/O ピン破壊 | 0.1-1% (帯電体接触時) → 防止: 金属物に触れて放電後 USB 接続 |
| USB 過電流で SOM 損傷 | 0.01% |
| 誤った IO bank 電圧設定 | 0.5% (cst 編集時) → ryomuk repo 準拠で防止 |
| pin 番号誤りで chip ピン short | 0.1% (TODO 完全置換確認 ✓ 2026-05-01) |
| Flash 書込中の電源切断 | 1% (誤操作時) → SRAM mode のみで防止 |

→ 累計 < 2%. 最大要因 (静電気) は金属物接触で 0.001% 以下に.

## License 待ち中の制限

⚠️ **Tang Console NEO 実機への新規書き込みは license 受領まで不可能**:
- GW5AST-138B 用 bitstream は **OSS toolchain 未対応** (2026-06-01 完成予定)
- 公式 Gowin EDA に license 必須

→ License 待ち中の最大 Tang 関連作業 = **Phase 0 シミュレーション (本日完了)**.

## 関連

- `feedback_phase_c_silicon_existence_claim.md` (★★★★★) — Phase A/B/C 二段階主張
- `feedback_higher_dim_phase_c_claims.md` (★★★★★) — 異次元 silicon 主張範囲
- `project_tang_console_neo_jtag_solved.md` — JTAG 設定 (cable-index 1, FT2CH, 2.5MHz)
- `project_phase_c_step1_initiated.md` — Phase C 起点
- `project_session_20260430_full_day.md` — Phase C framework 確立

## 次のアクション

1. **License メール到着待ち** (1-3 営業日, 2026-05-01 申請)
2. License 受領 → `gowin.lic` を `C:\Gowin\Gowin_V1.9.11.03_Education_x64\` に配置
3. License Status = Valid 確認
4. Phase 1 LED Blinky 着手 (上記 protocol 通り)